開発環境

Products List 製品一覧(土壌検査)

土壌検査の製品一覧

全 34 件 見つかりました。

  • ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

    ストレートスルー テスト接触ソリューション TRI温度のケルビンおよび非ケルビン試験用 ソケット (Alpha)

    大量生産テスト環境における数十万個のICパッケージ挿入に対応

    【主な特徴】
    ●ショートワイピングストローク(SWS)技術
    ●多用途でコスト効率に優れています
    ●アドバンス・コンタクト・フィニッシュ(ACF)技術
    ●サーマル・コンディショニング・チャンネル(TCC)テクノロジー

    ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

  • ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

    テスト接触ソリューション 精密温度試験用 オフセット 自動車/ハイパワー ソケット (Gamma)

    中電力から高電力テストアプリケーションまでのミックスシグナルおよび車載IC向けの業界をリードする高精度サーマルコンタクトソリューション

    Gamma™ : オフセット(ICパッケージとロードボードの両端が垂直になっていない状態) 高性能テスト用接触ソリューションで、ラボでの初期特性評価から量産テスト環境まで対応します。

    ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

  • ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

    テスト接触ソリューション 3温度非ケルビン試験用 (THOR)

    大量生産テスト環境を通じて設計および検証されています。

    取り付けが簡単になり、破片が最小限に抑えられ、清掃の必要性が長くなり、メンテナンスの時間とコストが最小限に抑えられます。

    ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/02/29

  • ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/01/10

    Engineering用 高低温テストハンドラ (Talosシリーズ)

    デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能

    ●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
    ●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
    ●低温/高温試験用 → 3温度試験

    ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2024/01/10

  • 株式会社Wave Technology |最終更新日:2023/12/01

    導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)

    ・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能

    ・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。

    株式会社Wave Technology |最終更新日:2023/12/01

  • 株式会社テクトロニクス&フルーク |最終更新日:2023/10/30

    RSA500Aシリーズ・リアルタイム・スペクトラム・アナライザ (RSA503A型/RSA507A型)

    フィールドでの使用に最適な堅牢タイプでバッテリ動作可能なリアルタイム・スペクトラム・アナライザ

    高性能でありながら軽量、スペクトラム解析に必要な機能をすべて備えたフィールド用ツールです。干渉信号の検出、ネットワーク管理などのアプリケーションに最適です。過酷な環境にも耐えられる堅牢な筐体を採用しており、お手頃な価格でありながら驚異的な性能を備えています。

    株式会社テクトロニクス&フルーク |最終更新日:2023/10/30

  • ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2022/12/12

    インパルス巻線試験機 高電圧コイル測定に! (IWT-10KV)

    10,000VDCインパルス電圧, 100MHzの高速サンプリングレートを提供

    マスターサンプルとDUTの波形を比較することで、巻線材料や巻線過程, フレーム, 磁気材料による絶縁不良や回転不足などの問題を簡単に検出

    ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2022/12/12

  • ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2022/04/04

    【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

    品質管理・外観検査のための Emspira3。  パソコン本体不要!モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なPCレスデジタルマイクロスコープ。

    EmspiraはPCレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。

    ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2022/04/04

  • オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/20

    焦点可変液体レンズ (TAGレンズ Autex)

    可動部不要の焦点可変液体レンズ

    液体レンズを超音波で駆動した超高速の焦点可変レンズ。更に高速なパルス照明で見たいところの焦点位置を制御することにより、機械的なオートフォーカスや高度な画像処理技術を使うことなく、ダイナミックな2D・3Dイメージングの取得が可能になりました。

    オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/20

  • オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06

    高精度(ナノ精度)位置決め自動ステージ (ALIO)

    ステージ業界を覆すニュースタンダード! 世界最高峰の高精度ステージ

    各種ステージにナノメーター精度が要求される今、アリオは2001年より6-Dナノプレシジョンと言う定義を定め、製造する全ての製品にこれを適用することで急成長しました。 ハイブリッドヘキサポッドは新しい移動方法で従来のステージをいくつも重ねるイメージをくつがえし、高精度、高速で任意の位置への複雑な動きを単純移動で可能にしています。

    オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06

New Products 最近追加された製品

  • mk-改行テスト

    mk-改行テスト (mk-brtest)

    テストメーカー

  • あ

    あ (あ)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivalue

    ivalue (1111)

    テストメーカー

  • 服部テスト_製品名

    服部テスト_製品名 (服部テスト_型番)

    IMV株式会社

  • テスト1

    テスト1 (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivaluePORTAL

    ivaluePORTAL (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • 温度センサー LoRaWAN®

    温度センサー LoRaWAN® (TS301/TS302 )

    ウェーブクレスト株式会社

  • 光コム3次元センサ上面検査装置

    光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)

    株式会社OptoComb

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