デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
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●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
| DS,DS3シリーズ 仕 様 |
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| | DS,DS3シリーズ |
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| | DS3シリーズ 三相入力製品一覧 |
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html