デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム（ATC）による-60 °C～+175 °C（-76°F～+347°F）のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
ウェーブクレスト株式会社 Engineering用 高低温テストハンドラ (Talosシリーズ)
Engineering用 高低温テストハンドラの特長
Engineering用 高低温テストハンドラの資料ダウンロード
Contact
Engineering用 高低温テストハンドラに関するお問い合わせ
出展企業情報
- 企業名
-
ウェーブクレスト株式会社
- 企業PR
- ウェーブクレスト株式会社:comment
