Products List 製品一覧(保護継電器試験器)
保護継電器試験器の製品一覧
全 66 件 見つかりました。
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株式会社レスカ ｜最終更新日：2024/12/24
タッキング試験機 (TAC1000)
これまで個人差による誤差が大きかったタッキネスの測定データを、定量的に評価することが可能に！
進入速度、加圧力、加圧時間、引き離し速度を制御したプローブでサンプルに押し付け、引き離す過程で粘着力を測定します。データはパソコンで処理可能です。ダブル温調（特許）により、予備加熱した試料に加熱プローブを接触させ、温度を一定に保ちながら加熱と加圧を行い、粘着力を計測できます。この技術で、金型との離形成やトナー定着ベルトの測定が可能で、最短10ミリ秒でタッキネスも計測できます。株式会社レスカ ｜最終更新日：2024/12/24
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メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
ラマンセンサー (Raman EYE)
プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー
532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
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日本カンタム・デザイン株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)
AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。日本カンタム・デザイン株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
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株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15
コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)
表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる） 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15
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株式会社テツタニ ｜最終更新日：2024/11/15
【BYK】ウェーブ-スキャン 3 デュアル（塗装表面性状測定） (Cat No.7400)
高光沢から中光沢表面のオレンジピール およびDOI（写像鮮明性）測定
外観の管理はもはや最終トップコート検査には限られません。 ウェーブ-スキャン 3 デュアルは、レーザー光源を用いて光沢面の 光学プロファイルをスキャンします。さらに、高エネルギーの赤外 LEDで光沢表面の同じストラクチャースペクトル(0.1-30mm)を測定 します。 ダルネスは最新鋭のCCDカメラで測定され、＜0.1ｍｍのストラク チャーの表面写実性に関する情報が得られます。株式会社テツタニ ｜最終更新日：2024/11/15
