Glossary 用語集一覧
用語集一覧
全 663 件 見つかりました。
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EEPROM
【イー・イー・ピーロム】Electprocally Erasable Programmable Read-Only Memory。特定の電圧を印加することで消去・書込みが可能な不揮発性メモリ。
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ESCA
【Electron spectroscopy for chemical analysis】X線光電子分光法。単一エネルギーのX線を照射し、発生する光電子のエネルギースペクトルを測定する方法。極表面の元素分析ができる。またピークシフトより元素の化学状態についての情報も得られる（金属か酸化物かなど）。近年は一般的にはXPS（X線光電子分光法）と呼ばれるが、化学状態分析のできる光電子分光法という意味でESCA（エスカ）とも呼ばれる。
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Euro NCAP
[EUROPEAN NEW CAR ASSESSMENT PROGRAMME]ヨーロッパ新車アセスメントプログラム：ユーロエヌキャップ：新車の安全性を評価している。
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EDLC
[Electric double-layer capacitor]電気二重層キャパシタ
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EPS
[Electric Power Steering]電動パワーステアリング
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EVSE
[Electric Vehicle Supply Equipment]電気自動車用充電ケーブル
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ECU
[electronic control unit]イーシーユー：電子制御ユニット：自動車等で各種センサーからの情報を取得し,電気的な制御を司る計算機のこと。例：アイドリングストップECU,プリクラッシュブレーキECU,電動パワーステリングECU。エンジンをコントロールするユニットもECU[engine control unit]と呼ばれている。
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ELID鏡面研削法
電解インプロセスドレッシング鏡面研削法：シリコンウエハなどを鏡面加工する技術。ELID[ELectrolytic In-process Dressing]加工が困難なセラミックス、ガラス、フェライト、高硬度鋼材、複合材料に対して鏡面加工ができる技術。理化学研究所素形材光学研究室が開発。ドレッシング：目立て
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FIB
集束イオンビーム。電界で加速したイオンビームを細く絞ったもの。試料にビームを当てることにより、微細加工、蒸着、観察に用いる装置のこともいう。試料の微細箇所を狙って加工ができるため、SEM、TEMの前処理として用いられることも多い。
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FE-SEM
電界放射型の電子源を持った走査型電子顕微鏡。熱電子放出型に比べて高分解能の観察が可能である。＝電界放射型走査電子顕微鏡、フィールドエミッションSEM。
