開発環境

Glossary 用語集(FIB)

FIB

  • 集束イオンビーム。電界で加速したイオンビームを細く絞ったもの。試料にビームを当てることにより、微細加工、蒸着、観察に用いる装置のこともいう。試料の微細箇所を狙って加工ができるため、SEM、TEMの前処理として用いられることも多い。

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  • mk-改行テスト

    mk-改行テスト (mk-brtest)

    テストメーカー

  • あ

    あ (あ)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivalue

    ivalue (1111)

    テストメーカー

  • 服部テスト_製品名

    服部テスト_製品名 (服部テスト_型番)

    IMV株式会社

  • テスト１

    テスト１ (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivaluePORTAL

    ivaluePORTAL (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • 温度センサー LoRaWAN®

    温度センサー LoRaWAN® (TS301/TS302 )

    ウェーブクレスト株式会社

  • 光コム3次元センサ上面検査装置

    光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)

    株式会社OptoComb

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