Products List 製品一覧(充放電試験装置)
充放電試験装置の製品一覧
全 73 件 見つかりました。
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/23
EFTカップリング イミュニティ ICテスト (P202 / P302 L-EFT set)
ICのパルス耐性を測定するためのパルスジェネレーター
IC のパルス耐性を判定するために使用されます。バースト/ESD デバイス テスト中、生成されたパルス状の妨害は、テスト対象デバイス内のすべての IC に到達します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/23
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
フィールドバースト検出器 (BD11H )
ケーブル内のバースト電流または ESD 電流パルスを検出
検出された妨害パルスは検出器の LED に表示され、リレー出力 (無電位) または光ファイバー ケーブルを介して信号としてさまざまな評価機器に送ることができますウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（電界パルス） (P23 set)
極薄の先端
P23 の干渉パルスは、リセット、クロック、クォーツ、またはそれぞれの信号線などのテスト対象のデジタル IC 入力を通過して結合します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（磁界パルス・トリガー機能） (P11t set)
干渉耐性解析のための開発ツール
先端から生成されるファーストトランジェント磁場は、アセンブリ上の弱い箇所を検出することができます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（磁界パルス・トリガー機能） (P12t set)
開発段階でのアセンブリの弱点を検出可能
カップリングクランプの原理に従って、ファーストトランジェント磁場が先端から生成されます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/10
近磁界プローブ 40GHzまで測定可能 (HR-E40-1 set)
40GHzまで測定可能なニアフィールドプローブ
測定チップは、特別なダンピングシステムによってケーブルシールドから切り離されており、さらにプローブには電流減衰器が含まれています。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/10
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マイクロニクス株式会社 ｜最終更新日：2024/12/25
バイコニカルアンテナ (MAN150/150B)
広帯域・小型・軽量のアンテナ。 放射エミッションの簡易測定に好適
■MAN150 周波数範囲：20MHz〜3GHz ■MAN150B 周波数範囲：30MHz〜1GHzマイクロニクス株式会社 ｜最終更新日：2024/12/25
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2024/11/19
近磁界マイクロプローブ 2.5MHz～6GHz, 分解能60μm Hフィールド (ICR HV100-6 set)
近接場磁場の高分解能測定用に設計。●IEC 61967-3に準拠したICによる表面スキャン ●IC経由のボリュームスキャン ●ピンスキャン の測定が可能。
ICR HV セットには、磁場測定用の ICR 近接場マイクロプローブが 1 つ含まれています。 測定コイルはプローブヘッド内で水平。 ICR プローブは、ポジショニング システム (Langer社スキャナー) で操作されます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2024/11/19
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株式会社テクシオ・テクノロジー（GWInstek） ｜最終更新日：2024/11/14
EMI近傍界プローブセット (GKT-008)
EMI近界プローブセットGKT-008は、独自構造の高感度で指向性のない放射ノイズ測定プローブと電圧プローブのセットです。
近界プローブセットGKT-008は、スペクトラムアナライザGSP-9330と組み合わせることで簡易なEMCプリテストが可能です。スペアナのEMCプリテスト設定を選択するだけで放射ノイズや伝導ノイズ測定の設定が規格周波数を選択するだけで測定開始できます。独自構造のプローブにより高感度で指向性がなく容易に放射ノイズ測定が可能です。また、電圧プローブで電源の電圧ノイズを測定することができます。株式会社テクシオ・テクノロジー（GWInstek） ｜最終更新日：2024/11/14
