Products List 製品一覧(協働ロボット)
協働ロボットの製品一覧
全 95 件 見つかりました。
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/10/20
AFM/SPMカンチレバー (電気測定(電流同時AFM測定、EFM、KFM、SSRM)カンチレバー)
AFM/SPMプローブ
電気測定(電流同時AFM測定、EFM、KFM、SSRM)でおすすめのカンチレバーをご紹介。セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMをご使用の方もぜひご使用をご検討ください。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/10/20
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/07/20
AFM/SPMカンチレバー (コンタクトモードカンチレバー)
AFM/SPMプローブ
コンタクトモード測定でおすすめのカンチレバーをご紹介 セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMをご使用のお客様もぜひご使用をご検討ください。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/07/20
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (240AC-NA)
AFM/SPMプローブ
ソフトサンプルにのAC modeイメージングに。 三角錐型のティップをカンチレバーの先端に配置してあり、サンプルの関心領域への位置合わせが簡便です。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (PPP-SEIHR)
AFM/SPMプローブ
大気・液中測定用プローブ。タッピングモード、ダイナミックモードでご使用いただけます。 セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMでノンコンタクトモードをご使用のお客様は、こちらをお使いください。ZEIHR タイプと比較し、ばね定数が低く設定されています。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (PPP-FMR)
AFM/SPMプローブ
フォースモジュレーション測定に適したばね定数を持ったプローブ。 操作安定性が損なわれる場合がありますが、FMプローブでノンコンタクトモード・タッピングモードも実行できます。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (SSS-SEIHR)
AFM/SPMプローブ
日立ハイテク製SPM(旧 セイコーインスツルメンツ製品)のノンコンタクトモード測定にはNANOSENSORS™ SEIHタイプをお使いください。ZEIHタイプと比較して、ばね定数を抑えています。先鋭化されたティップでナノストラクチャやナノラフネスの高分解能測定に適しています。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR10T-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比10:1で削りました。ライン&スペースやディープトレンチの測定に適しています。 AFMに取り付けた際に生じる傾き(一般に13度です)を補正するため、ティップが13度傾斜しています。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR5T-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比5:1で削りました。ライン&スペースやディープトレンチの測定に適しています。 AFMに取り付けた際に生じる傾き(一般に13度です)を補正するため、ティップが13度傾斜しています。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR5-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比5:1で削りました。ライン&スペースやディープトレンチの測定に適しています。株式会社NanoAndMoreジャパン |最終更新日:2020/06/03
