Products List 製品一覧(計測・評価、校正)

計測・評価、校正の製品一覧

全 69 件見つかりました。

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株式会社東京精密｜最終更新日：2021/01/22

Opt-scope (R 複式レンズシステム / S+ 単式レンズシステム)

非接触。高分解能。広範囲。

機械加工面の表面形状を白色干渉センサーにより非接触かつ高精度に三次元表面粗さ測定が可能です。『接触式表面粗さ』の相関性が取れる唯一の非接触表面粗さ測定機です。

株式会社東京精密｜最終更新日：2021/01/22
株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23

ＡＦＭ/ＳＰＭカンチレバー (ダイナミック・タッピングモードカンチレバー)

AFM/SPMプローブ

ダイナミック・タッピングモードでおすすめのカンチレバーをご紹介。旧SIIもしくは日立ハイテクノロジーズ製ＳＰＭをご使用の方もぜひご使用をご検討ください。

株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23
株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23

ＡＦＭ/ＳＰＭカンチレバー (摩擦力顕微鏡測定カンチレバー)

AFM/SPMプローブ

摩擦力顕微鏡測定モードでおすすめのカンチレバーをご紹介。旧SIIもしくは日立ハイテクノロジーズ製ＳＰＭをご使用の方もぜひご使用をご検討ください。

株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23
株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23

ＡＦＭ/ＳＰＭカンチレバー (粘弾性・フォースモジュレーション測定カンチレバー)

AFM/SPMプローブ

粘弾性・フォースモジュレーションの測定でおすすめのカンチレバーをご紹介。SIIもしくは日立ハイテクノロジーズ製ＳＰＭをご使用の方もぜひご使用をご検討ください。

株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/12/23
株式会社東京精密｜最終更新日：2020/12/07

METROTOM　 (800/500)

マイクロフォーカスX線により、非破壊で微小な内部欠陥を可視化から内外寸法評価が可能なX線CT装置。

従来、内部欠陥の観察用にX線CT装置が使われてきましたが、Carl Zeiss製『METROTOM』なら構造解析・機能検査・欠陥解析等の非破壊検査に加え、樹脂成形部品やアルミダイカスト等、複雑な工業製品の内部形状の構造比較や内外寸法の高精度な評価まで可能なので、ワークの置き換え、幅広いソリューションを提案できます。

株式会社東京精密｜最終更新日：2020/12/07
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株式会社ニコンインステック｜最終更新日：2020/11/18

【ニコン】CNC画像測定システム (NEXIV VMZ-S3020)

NEXIV VMZ-Sシリーズは、従来機種のNEXIV VMZ-Rシリーズの精度を維持しながら、更なる高スループット化を実現しました。

近年、自動車業界では、自動運転やEV市場拡大を背景に電装化が急速に進み、自動車に使用される電子、半導体部品が増加しています。人々の命に関わるため、搭載される部品には厳格な品質管理が求められ、測定機器への期待は大きくなっています。ニコンは、車載向け電子、半導体部品などの測定用途に最適なCNC画像測定システム「NEXIV VMZ-S」シリーズを提供します。

株式会社ニコンインステック｜最終更新日：2020/11/18

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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/10/20

ＡＦＭ/ＳＰＭカンチレバー (電気測定（電流同時AFM測定、EFM、KFM、SSRM）カンチレバー)

AFM/SPMプローブ

電気測定（電流同時AFM測定、EFM、KFM、SSRM）でおすすめのカンチレバーをご紹介。セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製ＳＰＭをご使用の方もぜひご使用をご検討ください。

株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/10/20
日本電子株式会社｜最終更新日：2020/09/11

卓上走査電子顕微鏡 (JCM-7000)

光学像からSEM観察、元素分析まで、高い操作の壁を破る卓上SEM

①Zeromag　光学像を拡大するとSEM像に切り替わります　②Live analysis 観察中の視野の主元素がわかります　③Live 3D　SEM像と3D画像を、Liveで2画面表示することができます　（代理店：日本電計（株）と共同出展）

日本電子株式会社｜最終更新日：2020/09/11
株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/07/20

AFM/SPMカンチレバー (コンタクトモードカンチレバー)

AFM/SPMプローブ

コンタクトモード測定でおすすめのカンチレバーをご紹介セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMをご使用のお客様もぜひご使用をご検討ください。

株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/07/20
株式会社日立ハイテク｜最終更新日：2020/07/13

ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。

「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

株式会社日立ハイテク｜最終更新日：2020/07/13