開発環境

Products List 製品一覧(レンズ)

レンズの製品一覧

全 39 件 見つかりました。

  • 日本カンタム・デザイン株式会社 |最終更新日:2024/12/24

    原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)

    AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定

    AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

    日本カンタム・デザイン株式会社 |最終更新日:2024/12/24

  • YKT株式会社 |最終更新日:2024/11/15

    ワイラー社角形デジタル水準器 (Clinotronicシリーズ)

    複数の接触面で広角度を高精度測定

    角形モデルのClinotronicシリーズは最高4面を利用し、+/-の反転なく平行度の測定に対応するデジタル水準器です。重力補正機能によりClinotronic Sは広角度45度で最小許容誤差1分30秒、 wylerCLINO Frameは60度で1分15秒を実現します。

    YKT株式会社 |最終更新日:2024/11/15

  • YKT株式会社 |最終更新日:2024/11/15

    ワイラー社精密デジタル水準器 (BlueSYSTEMシリーズ)

    高感度デジタル水準器が精密アライメントをサポート

    耐衝撃性に優れた静電容量センサと、温度自動補正機能による信頼性の高い測定結果が市場で高く評価されています。豊富な測定ベースと測定項目に応じた専用ソフトウェアを組み合わせることで、様々なアプリケーションの精密測定に応えます。

    YKT株式会社 |最終更新日:2024/11/15

  • ネクステム株式会社 |最終更新日:2024/11/12

    ファブリペローオープン共振器型複素誘電率測定器 (FPORシリーズ)

    フィルム、塗料、ガラス素材の誘電率測定に!! 5G/6G、ADASなど130GHzまでの誘電材料開発に最適!!

    ファブリペローオープン共振器を応用した装置で、低損失の誘電材料(εr:<15 tanδ:>10^-5)の複素誘電率を高精度・短時間に測定可能です。 ネットワークアナライザ(VNA)と同軸接続し、専用ソフトウェアを用いる事で最大15GHz~130GHzまでをシームレスに1.5GHzステップで測定が可能です。 VNAはメーカーを問いません。 これからのミリ波素材の研究開発に最適です!

    ネクステム株式会社 |最終更新日:2024/11/12

  • ネクステム株式会社 |最終更新日:2024/11/12

    30MHz~1GHz簡易測定アンテナキット (ANK-310)

    30MHz~1GHzのエミッション測定に必要なアンテナ類が一式パッケージに!!

    FCC, CISPR, DO-160, MIL STD-461規格などのプリコンプライアンス測定やその他ノイズ測定に便利なアンテナをまとめてパッケージしたキットです。

    ネクステム株式会社 |最終更新日:2024/11/12

  • 株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/11/06

    マルチICP発光分光分析装置 (SPECTROGREEN(FMX46))

    2倍の感度を実現する革新のラジアル測光テクノロジーを採用

    優れた操作性と性能を兼ね備え、パッシェンルンゲ光学系ORCAにより280 nm以下の波長範囲において約8 pmの分解能を持つマルチICP-OES装置です。GREENによる分析は、排水、土壌、汚泥などの難しいマトリックスを含むサンプル、工業用化学物質、高塩濃度、金属を含むサンプルに最適です。                         (代理店:日本電計株式会社と共同出展)

    株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/11/06

  • 株式会社Wave Technology |最終更新日:2024/10/23

    リバースエンジニアリング Plus (リバースエンジニアリング Plus)

    リバースエンジニアリング Plus

    ・他社製品を分析して新製品開発のためのアイデアを得たい! ・搭載部品が廃番(EOL)になったけど現物だけで回路図が無い!といったお悩みはありませんでしょうか? わずらわしい調査は一切不要! ・現物をご支給頂くだけで回路図まで起こしなおします。 ・開発設計会社としてPlusのご要望にもお応えいたします。

    株式会社Wave Technology |最終更新日:2024/10/23

  • 株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/08/01

    蛍光X線分析装置 (EA1000VX)

    より早く!精度よく!より簡単に!を実現した蛍光X線分析装置

    RoHSなど環境規制物質管理に対応し、高速かつ簡単に有害物質を検査できる蛍光X線分析装置です。測定の高速化と材料判定などの各種新機能により検査効率を大きく向上しました。膜厚測定や貴金属分析などの一般分析にも対応可能です。                     (代理店:日本電計株式会社と共同出展)

    株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/08/01

  • 株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/08/01

    高感度蛍光X線分析装置 (EA6000VX)

    世界最速レベルの超高速マッピング元素分析が可能。有害物質管理、微小異物検査に!

    基板全面に渡る有害物質の管理や、微小異物の測定など従来の装置では困難だったものも可能になりました。基板に潜む鉛の検出、最大250×200mmの試料に混入する数十μmの金属異物も短時間で検出できます。    (代理店:日本電計株式会社と共同出展)

    株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2024/08/01

  • 株式会社テクトロニクス&フルーク |最終更新日:2023/10/30

    RSA500Aシリーズ・リアルタイム・スペクトラム・アナライザ (RSA503A型/RSA507A型)

    フィールドでの使用に最適な堅牢タイプでバッテリ動作可能なリアルタイム・スペクトラム・アナライザ

    高性能でありながら軽量、スペクトラム解析に必要な機能をすべて備えたフィールド用ツールです。干渉信号の検出、ネットワーク管理などのアプリケーションに最適です。過酷な環境にも耐えられる堅牢な筐体を採用しており、お手頃な価格でありながら驚異的な性能を備えています。

    株式会社テクトロニクス&フルーク |最終更新日:2023/10/30

New Products 最近追加された製品

  • 日本電計テスト

    日本電計テスト (12345678)

    日本電計株式会社

  • mk-改行テスト

    mk-改行テスト (mk-brtest)

    テストメーカー

  • あ

    あ (あ)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivalue

    ivalue (1111)

    テストメーカー

  • 服部テスト_製品名

    服部テスト_製品名 (服部テスト_型番)

    IMV株式会社

  • テスト1

    テスト1 (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • 温度センサー LoRaWAN®

    温度センサー LoRaWAN® (TS301/TS302 )

    ウェーブクレスト株式会社

  • 光コム3次元センサ上面検査装置

    光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)

    株式会社OptoComb

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