開発環境

Glossary 用語集(SEM)

SEM

  • 走査型電子顕微鏡。細く絞った電子ビームを二次元的に固体表面に照射し、各点からの信号(二次電子、反射電子、透過電子、X線、カソードルミネッセンス、内部起電力)を情報として取り出し、走査に同期した表示装置上に画像として再生する顕微鏡。

New Products 最近追加された製品

  • mk-改行テスト

    mk-改行テスト (mk-brtest)

    テストメーカー

  • あ

    あ (あ)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivalue

    ivalue (1111)

    テストメーカー

  • 服部テスト_製品名

    服部テスト_製品名 (服部テスト_型番)

    IMV株式会社

  • テスト1

    テスト1 (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • ivaluePORTAL

    ivaluePORTAL (12345)

    インクレイブ株式会社_BP通知先テスト

  • 温度センサー LoRaWAN®

    温度センサー LoRaWAN® (TS301/TS302 )

    ウェーブクレスト株式会社

  • 光コム3次元センサ上面検査装置

    光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)

    株式会社OptoComb