Products List 製品一覧(受託製造・開発委託)
受託製造・開発委託の製品一覧
全 31 件 見つかりました。
-
株式会社Wave Technology |最終更新日:2023/12/01
導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。株式会社Wave Technology |最終更新日:2023/12/01
-
コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
YXLON(エクスロン) (Cheetah EVO )
最高のX線検査装置 アセンブリ/ラボ検査で優れた拡張性発揮
YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
-
コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
YXLON(エクスロン) (Cougar EVO )
小さなフットプリントで次世代の品質と信頼性を実現
マイクロフォーカスイメージで電子部品や実装基板などの解析· 検査用途で活躍し、高感度型16ビット(65000階調)フラットパネルディテクタによる抜群の表現力があります。省スペースに適した 1,100x1,050mmフットプリント設計でオリジナルCT再構成モジュールと3D表示ソフトウェアを搭載しています。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
-
ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2022/04/04
【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)
品質管理・外観検査のための Emspira3。 パソコン本体不要!モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なPCレスデジタルマイクロスコープ。
EmspiraはPCレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2022/04/04
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/08
超小型CMOSビデオスコープ (Enable Visualyze )
光源付きで、狭い管の中や暗所の検査に最適です。
超小型CMOSビデオスコープはセンサーサイズがわずか0.95×0.95×2.5mmの極小サイズで今まで手(目)の届かなかった所まで確認でき、医療用はもとより工業用途にも鮮明な画像が取得できる画期的な製品です。暗所でも使用できる光ファイバー照明付タイプでもカメラ、ケーブル径はわずか1.4mm、16万画素です。(さらに小型の4万画素、外径0.96mmもあり)オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/08
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
ポジションセンシングディテクター PSD (Sitek社PSD )
競合他社が追随しえないリニアリティ、分解能、応答性!
リニアリティ、分解能、応答性など、他が追随しえない性能をもつPSDは世界各国で、特に精密計測分野においては多数使用されています。1軸、2軸、サーキュラータイプはもとより、演算回路アンプが内蔵された手離れの良いSPCシリーズなどもあります。世界各国、特に精密計測分野において多数使用されております。カスタム品にも対応します。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
-
株式会社 エリオニクス |最終更新日:2021/04/02
表面力測定オプション(ナノインデンテーション装置) (ENT-NEXUS 表面力オプション)
表面力(接触した2つの物質表面を引き離すために必要な力)を容易に、定量的に測定する計測方法。 高精度な超微小押込み硬さ試験機(ナノインデンテーション試験機)のオプション。
【応用分野】原子間力顕微鏡(AFM)や接触角計では困難だった試料表面の評価、トライポロジー分野における摩擦力低減に最適な表面形状の評価、金型の離型性の検証など。株式会社 エリオニクス |最終更新日:2021/04/02
-
株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2020/08/27
蛍光X線分析装置 (EA1400)
RoHS対応をはじめ、品質管理、異物解析などに対し、迅速な分析が可能です。
新型SDD検出器を採用、高感度、高スループットな測定が可能な蛍光X線分析装置です。真空システムと新たなSDDの組み合わせで、軽元素を含むスラグやセメントの工程管理や品質管理を強化できます。試料同軸観察・X線垂直照射方式で、異物分析の精度が向上しました。 (代理店:日本電計株式会社と共同出展)株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2020/08/27
-
ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2018/04/25
ICテストシステム (ICI03 L-EFTセット)
プローブでICチップにパルス注入、サイドチャンネルを解析!
ICテストシステム【ICI 03 L-EFTセット】は、高分解能IC測定ツールで、製造段階においてIC解析を行います。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2018/04/25