Products List 製品一覧()
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全 51 件 見つかりました。
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株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2020/08/27
蛍光X線分析装置 (EA1400)
RoHS対応をはじめ、品質管理、異物解析などに対し、迅速な分析が可能です。
新型SDD検出器を採用、高感度、高スループットな測定が可能な蛍光X線分析装置です。真空システムと新たなSDDの組み合わせで、軽元素を含むスラグやセメントの工程管理や品質管理を強化できます。試料同軸観察・X線垂直照射方式で、異物分析の精度が向上しました。 (代理店:日本電計株式会社と共同出展)株式会社 日立ハイテクサイエンス |最終更新日:2020/08/27
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株式会社Wave Technology |最終更新日:2020/07/09
■導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)
業界初!DC/ACの両測定に対応
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。株式会社Wave Technology |最終更新日:2020/07/09
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コグネックス株式会社 |最終更新日:2020/06/18
COGNEX ViDi 【In-Sight D900】 (In-Sight ViDi)
カメラ一体型(ViDiソフト内蔵)画像処理システム
Cognex ViDi 【In-Sight D900】は、現場でPCが不要なカメラ一体型でDeepLearningソフト内蔵の画像処理システムです。これまで自動化が困難だった目視検査やOCRに対応できます。コグネックス株式会社 |最終更新日:2020/06/18
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/03/25
ナノ3D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/03/25
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スリーアールソリューション株式会社 |最終更新日:2019/07/18
Φ3.9mm 先端可動式工業用内視鏡 TFIBER (3R-TFIBER39)
ジョイスティックで直観的に先端を操作
ジョイスティック操作がしづらい先端可動式の内視鏡は思い通りに動かすことができないストレスから、業務に支障をきたす可能性があります。 この先端可動式工業用内視鏡に搭載されたジョイスティックは、指を軽くあてるだけで、俊敏に可動。自然な感覚で操作できます。 見たい場所へカメラを瞬時に向けられ、作業の高速化・効率アップに繋げます。スリーアールソリューション株式会社 |最終更新日:2019/07/18
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株式会社 エリオニクス |最終更新日:2019/03/22
三次元粗さ解析走査電子顕微鏡 (ERA-600 および ERA-600FE)
高精度・高分解能表面形状測定機の決定版。 高分解能SEM観察と試料表面の形状測定、 表面性状パラメータ算出がこの一台で可能! 精密工学会技術賞を受賞。
三次元鳥瞰図・等高線図・JIS規格、ISO規格の表面性状パラメータが得られます。 独自の二次電子信号処理技術により縦方向、横方向ともに分解能が高く、微細な表面形状を確実に捕らえます。株式会社 エリオニクス |最終更新日:2019/03/22
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コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/01/31
イメージング輝度計 (ProMetric® Yシリーズ)
各種ディスプレイやバックライト付キーボードの輝度評価、外観表面検査用途に特化したイメージング輝度計
ProMetric® Yシリーズは、各種ディスプレイ、バックライト付キーボードの輝度、外観表面検査用途に適した2次元輝度計です。 高解像度、高速測定を特長とするハードウェアとアプリケーションソフトウェアと組み合わせにより、研究開発での高度な画像解析、生産現場での検査の自動化が可能です。コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/01/31
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コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/01/31
イメージング色彩輝度計 (ProMetric® Iシリーズ)
各種ディスプレイ、バックライト付キーボードの輝度、色度評価、外観表面検査用途に適したイメージング色彩輝度計
ProMetric® Iシリーズは、各種ディスプレイ、バックライト付キーボードの輝度、色度評価、外観表面検査用途に適した2次元色彩輝度計です。高解像度、高速測定を特長とするハードウェアとアプリケーションソフトウェアと組み合わせにより、研究開発での高度な画像解析、生産現場での検査の自動化が可能です。コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/01/31
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パルステック工業株式会社 |最終更新日:2016/09/02
ポータブル型X線残留応力測定装置 (μ-X360s)
残留応力測定装置は、ここまで進化しました!
μ-X360シリーズに待望の小型版μ-X360sを追加しました。金属やセラミックなどの残留応力、残留オーステナイト、半価幅を非破壊で測定します。可搬性、信頼性、安全性、操作性、価格など、すべてにおいて優れた装置です。パルステック工業株式会社 |最終更新日:2016/09/02
