Products List 製品一覧(PCベース計測ボード＆システム)
PCベース計測ボード＆システムの製品一覧
全 414 件 見つかりました。
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（磁界・電界パルス） (P1 set)
開発段階で電子アセンブリの弱点を特定して除去するために使用
先端でバーストまたは ESD フィールドを生成します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（電界パルス） (P23 set)
極薄の先端
P23 の干渉パルスは、リセット、クロック、クォーツ、またはそれぞれの信号線などのテスト対象のデジタル IC 入力を通過して結合します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（磁界パルス・トリガー機能） (P11t set)
干渉耐性解析のための開発ツール
先端から生成されるファーストトランジェント磁場は、アセンブリ上の弱い箇所を検出することができます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（磁界パルス・トリガー機能） (P12t set)
開発段階でのアセンブリの弱点を検出可能
カップリングクランプの原理に従って、ファーストトランジェント磁場が先端から生成されます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
磁場プローブセット イミュニティ対策システムE1用 (S2 set)
干渉を受ける電子デバイスおよびアセンブリ内の非反応性高速過渡パルス磁場を測定
テスト対象デバイスで問題を引き起こすバーストおよび ESD プロセスを分析が可能ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
イミュニティ対策システム (E1 set)
開発段階でプリント基板の EMI 抑制に使用される EMC ツールのセット
E1 セットを使用して、バーストおよび ESD 干渉の原因を迅速に特定できます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
磁場プローブ (MS02)
テスト対象デバイス内の強磁場を測定するために設計
妨害電流の経路を検出可能ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
Eフィールドソース (ES08D)
IC ピンまたは導体の感度を決定するために使用されるプローブ チップ
テスト中、プローブ チップはピンまたは導電パスに接着されます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
Eフィールドソース (ES05D)
高性能Eフィールドソース ES05D
導電パス、小型コンポーネントとそのコネクタ、ワイヤ、抵抗器やコンデンサなどの単一の SMD コンポーネントに配置するのに適しています。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
バーストジェネレーター (SGZ21)
SGZ 21 バースト ジェネレータは、浮遊するパルス状の妨害波を生成
アセンブリ内で直接、またはテスト対象デバイスのフィールド ソースを介して間接的に、構造部品、ケーブル、シールド、接地接続に部分的に結合できます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
