Products List 製品一覧(サーモグラフィ)
サーモグラフィの製品一覧
全 14 件 見つかりました。
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株式会社レスカ ｜最終更新日：2024/12/24
タッキング試験機 (TAC1000)
これまで個人差による誤差が大きかったタッキネスの測定データを、定量的に評価することが可能に！
進入速度、加圧力、加圧時間、引き離し速度を制御したプローブでサンプルに押し付け、引き離す過程で粘着力を測定します。データはパソコンで処理可能です。ダブル温調（特許）により、予備加熱した試料に加熱プローブを接触させ、温度を一定に保ちながら加熱と加圧を行い、粘着力を計測できます。この技術で、金型との離形成やトナー定着ベルトの測定が可能で、最短10ミリ秒でタッキネスも計測できます。株式会社レスカ ｜最終更新日：2024/12/24
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メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
ラマンセンサー (Raman EYE)
プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー
532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24
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株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2024/11/14
2D分光放射計 (SR-5000/5000H)
画像を分光スペクトル解析。 待望の二次元タイプ分光放射計を開発。
2D分光放射計SR-5000は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を持つ面測定可能な2D分光放射計です。 ディスプレイ業界において、スーパーハイビジョン規格UHDTVの色域規格BT.2020により色域が大幅に拡大しておりレーザー光を搭載したディスプレイやOLEDディスプレイが開発されるようになってきています。これらに対応した高精度な計測器へのニーズに対応すべく、新開発しました。株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2024/11/14
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株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2023/12/01
導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2023/12/01
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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )
最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
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ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2022/04/04
【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)
品質管理・外観検査のための Emspira3。 パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。
EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2022/04/04
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株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2021/09/29
2D分光放射計 (SR-5100)
高解像度(500万)で高輝度分光測定(170憶cd/m2)が1nm毎におこなえます！
非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を500万で170億cd/m2を1nm毎に分光特性評価をおこなうことができ、多岐にわたる製品の品質を高く維持することに貢献する光計測機です。株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2021/09/29
