Products List 製品一覧(受託・校正)
受託・校正の製品一覧
全 20 件 見つかりました。
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株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2023/12/01
導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2023/12/01
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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )
最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
YXLON（エクスロン） (Cougar EVO )
小さなフットプリントで次世代の品質と信頼性を実現
マイクロフォーカスイメージで電子部品や実装基板などの解析· 検査用途で活躍し、高感度型16ビット(65000階調)フラットパネルディテクタによる抜群の表現力があります。省スペースに適した 1,100x1,050mmフットプリント設計でオリジナルCT再構成モジュールと3D表示ソフトウェアを搭載しています。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2023/08/08
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ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2022/04/04
【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)
品質管理・外観検査のための Emspira3。 パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。
EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2022/04/04
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株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2021/09/29
2D分光放射計 (SR-5100)
高解像度(500万)で高輝度分光測定(170憶cd/m2)が1nm毎におこなえます！
非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を500万で170億cd/m2を1nm毎に分光特性評価をおこなうことができ、多岐にわたる製品の品質を高く維持することに貢献する光計測機です。株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2021/09/29
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オーテックス株式会社 ｜最終更新日：2021/04/08
超小型CMOSビデオスコープ (Enable Visualyze )
光源付きで、狭い管の中や暗所の検査に最適です。
超小型CMOSビデオスコープはセンサーサイズがわずか0.95×0.95×2.5mmの極小サイズで今まで手(目)の届かなかった所まで確認でき、医療用はもとより工業用途にも鮮明な画像が取得できる画期的な製品です。暗所でも使用できる光ファイバー照明付タイプでもカメラ、ケーブル径はわずか1.4mm、16万画素です。（さらに小型の4万画素、外径０．９６ｍｍもあり）オーテックス株式会社 ｜最終更新日：2021/04/08
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株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/08/27
蛍光X線分析装置 (EA1400)
RoHS対応をはじめ、品質管理、異物解析などに対し、迅速な分析が可能です。
新型SDD検出器を採用、高感度、高スループットな測定が可能な蛍光X線分析装置です。真空システムと新たなSDDの組み合わせで、軽元素を含むスラグやセメントの工程管理や品質管理を強化できます。試料同軸観察・X線垂直照射方式で、異物分析の精度が向上しました。 （代理店：日本電計株式会社と共同出展）株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/08/27
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/04/06
中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)
より正確なナノ3D計測
広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/04/06
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株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2018/03/26
超低輝度分光放射計 (SR-UL2)
微小な数字・文字面の微弱光から超低輝度領域を高精度に測定
超低輝度分光放射計SR-UL2は、業界最高感度0.0005cd/㎡から300,000cd/㎡までのダイナミックレンジに対応した分光放射計になります。またHIGH SPEEDモードを搭載しており、超低輝度領域の0.005cd/㎡を約17秒で測定が可能です。設計・開発から品質管理やライン上での高速・高精度管理が可能です。株式会社トプコンテクノハウス ｜最終更新日：2018/03/26
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パルステック工業株式会社 ｜最終更新日：2016/09/02
非接触透明体厚み・うねり計測装置 ” ＨＭ－１０００ ” (HM-1000)
低コスト、ポータブルなガラス厚み計測装置 ※独自の深度方向スキャン方式を採用することで装置の小型化、低コスト化に成功しました。
【製品概要】 本製品はＯＣＴ（光干渉断層像）技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。パルステック工業株式会社 ｜最終更新日：2016/09/02
