Glossary 用語集一覧
用語集一覧
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表面粗さ Ra
中心線平均粗さ 粗さ曲線を中心線から折り返し、その粗さ曲線と中心線によって得られた面積を長さLで割った値をマイクロメートル(μm)で表わす。
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表面粗さ Rmax
"最大高さ 断面曲線を基準長さLを抜き取った部分の最大高さを求めてマイクロメートル(μm)で表わす。傷とみなされるような並はずれて高い山や深い谷のない部分から、基準長さだけを抜き取る。"
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表面粗さ Rz
"十点平均高さ 断面曲線から基準長さだけを抜き取った部分において、最高から5番目までの山頂の標高の平均値と、最深から5番目までの谷底の標高の平均値との差の値をマイクロメートル(μm)で表わす。"
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飛行時間型二次イオン質量分析法
飛行時間型二次イオン質量分析法。超高真空下で試料に一次イオンを照射すると、資料の極表面(1~3nm)から二次イオンが放出される。二次イオンを飛行時間型(TOF型)質量分析計へ導入することで、試料最表面の質量スペクトルが得られる。この際に一次イオン照射量を低く抑えることにより、表面成分を化学構造を保った分子イオンや部分的に開裂したフラグメントイオンとして検出することができ、最表面の元素組成や化学構造の情報が得られる。TOF-SIMSとも呼ばれる
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BSF効果
太陽電池セルの基板裏面電極付近に設けられた不純物濃度の高い領域によって、内蔵電界が形成され、裏面近傍での光生成キャリアが有効に収集される効果。
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フィードバック
出力(結果)を入力(原因)側に戻す操作のこと。システムの振る舞いを説明する為の基本原理として、エレクトロニクスの分野で増幅器の特性の改善、発振・演算回路及び自動制御回路などに広く利用されている。
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フィルタ
特定の周波数帯域のエネルギを通過させ、他の全ての周波数のエネルギを阻止する変換器。 低域(low-pass) 、高域(high-pass)、帯域(ba nd-pass )フィルタ
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フーリエ変換
単発現象のように周期的でない波形を時間領域から周波数領域に変換する数学的手法。(FFT : 時間領域→周波数領域)
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付加誤差
影響量の値が標準状態の値と異なるために生じる計測器の誤差。(JIS Z 8103から転載)
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不感帯
測定量を変化させても指示・記録素子が動き始めない範囲。 フルスケール(有効記録)の±0%で表す。