近接場磁場の高分解能測定用に設計。●IEC 61967-3に準拠したICによる表面スキャン ●IC経由のボリュームスキャン ●ピンスキャン の測定が可能。
ICR HH セットには、磁場測定用の ICR 近接場マイクロプローブが 1 つ含まれています。 測定コイルはプローブヘッド内で水平。 ICR プローブは、ポジショニング システム (Langer社スキャナー) で操作されます。
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ICR HH セットには、磁場測定用の ICR 近接場マイクロプローブが 1 つ含まれています。 測定コイルはプローブヘッド内で水平。 ICR プローブは、ポジショニング システム (Langer社スキャナー) で操作されます。