絶縁不良を検出するための理想的なテスト方法を提供し、高速サンプリング技術を使用して、標準/マスターコイルとDUT (被試験デバイス) の波形を測定器に保存が可能。また部分放電試験可能!
3 種類の波形試験を提供します。
1. 標準波形:L値比較
2. テスト波形:AreaSize比較、DiffZone比較、コロナ量比較、コロナ数比較
3.部分放電波形:PDコロナ波形を表示
Menu
3 種類の波形試験を提供します。
1. 標準波形:L値比較
2. テスト波形:AreaSize比較、DiffZone比較、コロナ量比較、コロナ数比較
3.部分放電波形:PDコロナ波形を表示
| DS,DS3シリーズ 仕 様 |
|
| | DS,DS3シリーズ |
![]() | ![]() | ![]() |
| | DSシリーズ 単相入力製品一覧 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | DS3シリーズ 三相入力製品一覧 |
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
![]() | ||
| ||
![]() | ||
| ||
![]() |
http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html