Products List 製品一覧(計測・評価、校正)
計測・評価、校正の製品一覧
全 69 件 見つかりました。
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/25
ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/25
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
プローブステーション（走査型プローブ顕微鏡コントローラー） (AFM5000Ⅱ/RealTuneⅡ)
SPM測定は難しくない！ 簡単操作を実現
進化した測定パラメータ自動調整機能を標準搭載するとともに、分かりやすさを追求したGUIに一新しました。これによりAFM初心者、また初めて測定する試料でも、再現性の高いデータが取得できます。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM） 汎用小型ユニット (AFM5100N)
省スペースで手軽に測定
カンチレバーの容易な取り付けや、自己検知方式のレーザー光軸調整など、様々な簡単操作機能を搭載した汎用小型ユニットAFM5100Nなら、直観的に使えるナビゲートシステムを使用して観察準備から測定までを手軽に行えます。装置本体に除振機構や防風カバー、USBカメラを搭載した省スペース設計で、卓上に設定できます。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
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株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/03/17
走査型白色干渉顕微鏡 (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/03/17
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ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
高精度レーザートラッカー (FARO Vantage Laser Tracker)
大型部品の測定、ロボットキャリブレーション、機械のアライメント、レベル出しに最適。 部品が大きすぎて運搬が困難、定盤に載らないなど、測定が難しかった大型部品も、現場で簡単に高精度に測定可能。
８０ｍまで測定可能な広範囲レーザートラッカー。航空機の部品、タービンブレード、建機部品など、大型部品の形状を高精度に測定。現場に持ち運んで測定できるため、検査室へ部品を移動する工数が削減できます。また、ダイナミック測定が可能なため、ロボットのティーチングやキャリブレーション、リアルタイム測定によるレベル出しなどが可能に。 ６Ｐｒｏｂｅを使用して、複雑な形状の隠れた部分も測定できます。ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
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ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
接触・非接触測定 アーム型3次元測定器 ファロースキャンアーム (FARO Quantum ScanArm)
いつでも、どこでも、簡単に。現場へ測定器を持ち運んで使用できるので、検査室へ部品を移動する手間が不要。セットアップもすぐに完了し、測りたいときに測定可能で、取扱いもとても簡単。
ブルーレーザーを採用した小型スキャナーを搭載のアーム型３次元測定器。接触測定では要素を高精度に測定。一体型の３Dスキャナーで部品の複雑な形状や自由形状をスキャンし、デジタル化。 ＣＡＤデータとの比較検査、加工途中での検査のほか、受入検査、初回品検査など、さまざまな用途で使用可能。１．５ｍから４ｍまで５サイズから選べます。ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
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ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
レーザープロジェクター (FARO TracerSI Imaging Laser Projector)
効率良く、正確な、レーザーガイダンスによるアセンブリと生産のための3Dレーザープロジェクター
表面や対象物にレーザーアウトラインを正確に投影します。実際のテンプレートを使用せず、バーチャルテンプレートにて、迅速かつ正確に位置決めが可能です。 また、製造工程内検査でも使用可能です。ファロージャパン株式会社 ｜最終更新日：2020/02/19
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ソフトワークス株式会社 ｜最終更新日：2014/05/21
ハンディAFM（原子間力顕微鏡） (AFM)
⾮破壊でナノメートル以下迄の３次元測定を可能にする超⼩型AFM
SEM や旧来のAFM に変わる次世代のAFM。 測定ワークにダメージを与えず、正確な3次元測定がスキル無しで可能になりました。ソフトワークス株式会社 ｜最終更新日：2014/05/21
