Products List 製品一覧(ハイスピードカメラ)
ハイスピードカメラの製品一覧
全 134 件 見つかりました。
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/07/13
ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/07/13
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (SSS-SEIH)
AFM/SPMプローブ
日立ハイテク製SPM（旧 セイコーインスツルメンツ製品）のノンコンタクトモード測定にはNANOSENSORS™ SEIHタイプをお使いください。ZEIHタイプと比較して、ばね定数を抑えています。先鋭化されたスーパーシャープティップでナノストラクチャやナノラフネスの高分解能測定に適しています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (240AC-NA)
AFM/SPMプローブ
ソフトサンプルにのAC modeイメージングに。 三角錐型のティップをカンチレバーの先端に配置してあり、サンプルの関心領域への位置合わせが簡便です。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (PPP-SEIHR)
AFM/SPMプローブ
大気・液中測定用プローブ。タッピングモード、ダイナミックモードでご使用いただけます。 セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMでノンコンタクトモードをご使用のお客様は、こちらをお使いください。ZEIHR タイプと比較し、ばね定数が低く設定されています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (PPP-FMR)
AFM/SPMプローブ
フォースモジュレーション測定に適したばね定数を持ったプローブ。 操作安定性が損なわれる場合がありますが、FMプローブでノンコンタクトモード・タッピングモードも実行できます。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (SSS-SEIHR)
AFM/SPMプローブ
日立ハイテク製SPM（旧 セイコーインスツルメンツ製品）のノンコンタクトモード測定にはNANOSENSORS™ SEIHタイプをお使いください。ZEIHタイプと比較して、ばね定数を抑えています。先鋭化されたティップでナノストラクチャやナノラフネスの高分解能測定に適しています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR10T-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比10:1で削りました。ライン＆スペースやディープトレンチの測定に適しています。 AFMに取り付けた際に生じる傾き（一般に13度です）を補正するため、ティップが13度傾斜しています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR5T-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比5:1で削りました。ライン＆スペースやディープトレンチの測定に適しています。 AFMに取り付けた際に生じる傾き（一般に13度です）を補正するため、ティップが13度傾斜しています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (AR5-NCHR)
AFM/SPMプローブ
タッピング、ACモード用AFM/SPMプローブです。FIB (Focused Ion Beam)でシリコンティップ先端をアスペクト比5:1で削りました。ライン＆スペースやディープトレンチの測定に適しています。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
AFM/SPMカンチレバー (PPP-SEIH)
AFM/SPMプローブ
市販のAFM/SPMに広く使用できるスタンダードな大気・液中測定用プローブです。 セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMでノンコンタクトモードをご使用のお客様は、こちらをお使いください。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/03
