Products List 製品一覧(ハイスピードカメラ)
ハイスピードカメラの製品一覧
全 134 件 見つかりました。
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
AFM/SPMカンチレバー (qp-BioAC-Cl)
uniqprobe™ ばらつきの少ない 細胞イメージング用ラウンドティップSPMプローブ
クォーツライクマテリアルを使用し、機械的特性のばらつきが格段に小さいのが特徴です。qp-BioAC プローブをベースとし、細胞イメージング用にティップの先端は曲率半径約30nm。サポートチップの片側に3本の短冊形カンチレバーを持つソフトサンプル、バイオサンプル専用のプローブです。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
AFM/SPMカンチレバー (qp-fast)
uniqprobe™ ばらつきの少ない液中高速スキャンが可能な最先端カンチレバー
クォーツライクマテリアルを使用し、機械的特性のばらつきが格段に小さい点が特徴です。3本のカンチレバーを持ち、ソフト/スタンダード/高速のノンコンタクトやタッピング モードAFM イメージングに最適なプローブです。空気中のみならず液中においても優れた 安定 性、高い感度、高速スキャン対応の高性能を示します。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
AFM/SPMカンチレバー (qp-XXXX)
uniqprobe™ ユニーク・プローブシリーズ 仕様のばらつきが格段に低いライフサイエンス向けSPMプローブ
カンチレバーは水晶のような素材（クォーツライク）で作られ、探針はカンチレバーと一体に形成されています。化学的に不活性で、流体や電気化学セルなどでもご使用が可能。 また、カンチレバーに曲がりがなく、液中環境測定時に起こりがちなドリフトを著しく低減させます。 シリコン製に比べ個々のプローブの仕様のばらつきが傑出して小さく、理想的なライフサイエンス向けプローブです。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/06/01
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/28
Accurion AD-NANO デスクトップアクティブ除振台 (NANOシリーズアクティブ除振台)
小型で優れた除振性能を持つアクティブ制御のデスクトップ除振台NANOシリーズ
ドイツAccurion社のアクティブ除振台NANOシリーズは小型で優れた除振性能を持ったデスクトップ除振台です。 原子間力顕微鏡・走査プローブ顕微鏡に最適な、従来にない小型サイズ。外部振動をキャンセルするアクティブ除振機能を備えた高性能除振台です。面倒なセットアップ作業はなく、スイッチを入れるだけで起動。デスクトップタイプですので移動も簡単です。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/28
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/28
Accurion AD-i4 デスクトップアクティブ除振台 (i4 シリーズ除振台)
SPMや干渉計に最適なアクティブ除振方式の高性能デスクトップ除振台
外部振動をキャンセルするアクティブ除振機能を備えた高性能除振台。面倒なセットアップ作業はなく、スイッチを入れるだけで起動。コントローラ内蔵のデスクトップタイプですので移動も簡単です。デモ機ございます。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/28
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株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/18
防音ボックス (AE-XX)
AFM、SPMに最適な防音ボックス
防音ボックスAEシリーズは、遮音機能を持つ防音パネルで作られた防音ボックスです。株式会社NanoAndMoreジャパン ｜最終更新日：2020/05/18
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株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/04/27
示差熱熱重量同時測定装置（TG-DSC） (NEXTA STAシリーズ )
熱分析は、NEXTステージへ。 高精度・高感度と優れた操作性を両立したNEXTA STA。
高評価を頂いていたデジタル水平差動天秤方式に加えて、新しく取り入れた天秤制御技術で、ugオーダーでのベースライン安定性、再現性を実現しました。また、高い温度制御技術による様々な温度プログラムへの対応、DTAからDSCに進化し比熱容量測定まで対応、試料観察測定の対応、高いレベルのガス置換性を実現しています。従来の測定用途に加えて、複合材料の成分定量、微量水分量の定量といった分析に威力を発揮します。株式会社 日立ハイテクサイエンス ｜最終更新日：2020/04/27
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/04/06
中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)
より正確なナノ3D計測
広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/04/06
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/25
ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/25
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株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
プローブステーション（走査型プローブ顕微鏡コントローラー） (AFM5000Ⅱ/RealTuneⅡ)
SPM測定は難しくない！ 簡単操作を実現
進化した測定パラメータ自動調整機能を標準搭載するとともに、分かりやすさを追求したGUIに一新しました。これによりAFM初心者、また初めて測定する試料でも、再現性の高いデータが取得できます。株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2020/03/17
