500V~10,000V のプログラム可能なインパルス電圧により、コイルを損傷することなく、低エネルギー試験が可能
絶縁不良を検出するための理想的なテスト方法を提供し、高速サンプリング技術を使用して、標準/マスターコイルとDUT (被試験デバイス) の波形を測定器に保存が可能。また部分放電試験可能!
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絶縁不良を検出するための理想的なテスト方法を提供し、高速サンプリング技術を使用して、標準/マスターコイルとDUT (被試験デバイス) の波形を測定器に保存が可能。また部分放電試験可能!
| DS,DS3シリーズ 仕 様 |
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| | DS,DS3シリーズ |
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html