モノのインターネットの波に注目したVIPERの次世代テスト&計測ソリューション&Spike Detector
テスト・セル構成の制約を超えた最も効果的なテスト・ソリューションを設計することができ、最小のテスト・コスト(CoT)で1時間あたりのテスト・ユニット(UPH)を向上させることができます。
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テスト・セル構成の制約を超えた最も効果的なテスト・ソリューションを設計することができ、最小のテスト・コスト(CoT)で1時間あたりのテスト・ユニット(UPH)を向上させることができます。
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html