固体、層、粒子、液体の元素解析 / 市場をリードするスピードと柔軟性を備えた高性能マイクロXRF
[1] スポットサイズ <20μm(ポリキャピラリーレンズを用いた集光X線ビーム) [2] レイヤーの選択可能 12 (マルチレイヤシステムは、オプションのXMethodパッケージを使用して分析できます) [3] ピクセルあたりの最小ドウェル時間 1ミリ秒(最大100mm/sのステージスピードによる高速マッピング)
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[1] スポットサイズ <20μm(ポリキャピラリーレンズを用いた集光X線ビーム) [2] レイヤーの選択可能 12 (マルチレイヤシステムは、オプションのXMethodパッケージを使用して分析できます) [3] ピクセルあたりの最小ドウェル時間 1ミリ秒(最大100mm/sのステージスピードによる高速マッピング)
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| | DS,DS3シリーズ |
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html