高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
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微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html