開発環境

株式会社フローベル コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる） 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

製品名
コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション)
型番
TOMOS-50
価格
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発売日
発売中
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コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション)の特長

 

コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション)の資料ダウンロード

TOMOS-50_202010.pdf
522.24 KB

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