ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。
通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法(JIS R-3255、JIS K 7376)準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。
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通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法(JIS R-3255、JIS K 7376)準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html