粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。
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「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html