⾮破壊でナノメートル以下迄の3次元測定を可能にする超⼩型AFM
SEM や旧来のAFM に変わる次世代のAFM。 測定ワークにダメージを与えず、正確な3次元測定がスキル無しで可能になりました。
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SEM や旧来のAFM に変わる次世代のAFM。 測定ワークにダメージを与えず、正確な3次元測定がスキル無しで可能になりました。
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| | DS,DS3シリーズ 外形図 ( 図-2 ) |
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http://www.toyodengenkiki.co.jp/index.html